ГОСТ 18683.1-83 (СТ СЭВ 3197-81) МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

Digital integrated circuits. Methods for measuring static electrical parameters

Группа Э29
ОКП 62 3100

Срок введения установлен с 1 января 1984 г.
до 1 января 1994 г.
Ограничение срока действия снято в 1993 г.

Взамен ГОСТ 18683-76 (в части пп. 3.1-3.10)

Проверен в 1988 г. Постановлением Госстандарта СССР от 28.06.88 N 2432 срок действия продлен до 01.01.94

Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее - микросхемы) и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем.

Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 18683.0-83.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3197-81 в части измерения статических электрических параметров микросхем (см. приложение).

1.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

1.2. Подготовка к измерениям

1.2.1. Подготавливают измерительную установку к работе.

1.2.2. Подключают микросхему к измерительной установке.

1.3. Проведение измерений

1.3.1. На микросхему подают напряжение питания от источника G2 и входные напряжения от источника G1, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

G1, G2 - источники постоянного напряжения; РА - измеритель постоянного тока; D - микросхема

Черт. 1

Примечание. Допускается к выходу микросхемы при измерении подключать нагрузку.

1.3.2. Измеряют ток измерителем РА.

1.4. Показатели точности измерения

1.4.1. Погрешность измерения тока потребления, тока потребления при высоком уровне выходного напряжения и тока потребления при низком уровне выходного напряжения должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.4.2. Доверительную вероятность погрешности измерения выбирают из ряда: 0,950; 0,990; 0,997.

Конкретное значение доверительной вероятности устанавливают в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.4.3. Границы интервала погрешности измерения тока потребления (тока потребления при высоком уровне выходного напряжения, тока потребления при низком уровне выходного напряжения) δ₁ определяют по формуле

,

(1)

где s_i - относительный коэффициент влияния напряжения питания на i-м выводе питания на измеряемый параметр;

a_j - относительный коэффициент влияния входного напряжения на j-м входе на измеряемый параметр;

a_k - относительный коэффициент влияния параметра нагрузки на измеряемый параметр;

a_T - относительный коэффициент влияния температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;

δ_i - относительная погрешность установления и поддержания напряжения питания на i-м выводе питания;

δ_j - относительная погрешность установления и поддержания входного напряжения на j-м входе;

δ_k - относительная погрешность установления и поддержания параметра нагрузки на k-м выходе;

δ_PA - относительная погрешность измерителя постоянного тока;

δ_T - относительная погрешность установления и поддержания температуры окружающей среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы;

K, K_i, K_j, K_k, K_PA, K_T - коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности δ, δ_i, δ_j, δ_k, δ_PA, δ_T и доверительной вероятности;

l - число выводов питания;

m - число входов;

n - число выходов.

2.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 2.

G1, G2, G3 - источники постоянного напряжения; РА - измеритель постоянного тока, D - микросхема

Черт. 2

2.2. Подготовка к измерениям - по п. 1.2.

2.3. Проведение измерений

2.3.1. На микросхему подают напряжение питания от источника G2, входное напряжение на проверяемый вход от источника G1 и входные напряжения на все другие входы от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов,

2.3.2. Измеряют ток измерителем РА.

2.4. Показатели точности измерения

2.4.1. Погрешность измерения входного тока низкого уровня и входного тока высокого уровня должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения - по п. 1.4.2.

2.4.3. Границы интервала погрешности измерения входного тока низкого уровня (входного тока высокого уровня) δ₂ определяют по формуле

,

(2)

где обозначения - см. формулу (1).

3.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 3.

PV - измеритель постоянного напряжения; G1 - генератор постоянного тока; G2, G3 - источники постоянного напряжения; D - микросхема

Черт. 3

3.2. Подготовка к измерениям - по п. 1.2.

3.3. Проведение измерений

3.3.1. На микросхему подают напряжение питания от источника G3, входные напряжения на все входы, кроме проверяемого, от источника G2, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов и нагружают проверяемый вход током, значение которого установлено в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

3.3.2. Измеряют напряжение измерителем PV.

3.4. Показатели точности измерения

3.4.1. Погрешность измерения напряжения блокировки должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

3.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения - по п. 1.4.2.

3.4.3. Границы интервала погрешности измерения напряжения блокировки δ₃ определяют по формуле

,

(3)

где a_I - относительный коэффициент влияния тока в цепи проверяемого входа на измеряемый параметр;

δ_I - относительная погрешность установления и поддержания тока в цепи проверяемого входа;

δ_PV - относительная погрешность измерителя постоянного напряжения;

K_I, K_PV - коэффициенты, зависящие от закона распределения погрешности δ_I, δ_PV и доверительной вероятности;

p - число входов, кроме проверяемого;

остальные обозначения - см. формулу (1).

4.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 4.

С1, G2 - источники постоянного напряжения; D - микросхема; G3 - генератор постоянного тока; PV - измеритель постоянного напряжения

Черт. 4

4.2. Подготовка к измерениям - по п. 1.2.

4.3. Проведение измерений

4.3.1. На микросхему подают напряжения питания от источника G2, входные напряжения от источника G1, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов, и нагружают проверяемый выход током, значение которого установлено в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.3.2. Измеряют напряжение измерителем PV.

4.4. Показатели точности измерения

4.4.1. Погрешность измерения выходного напряжения низкого уровня и выходного напряжения высокого уровня должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

4.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения - по п. 1.4.2.

4.4.3. Границы интервала погрешности измерения выходного напряжения низкого уровня (выходного напряжения высокого уровня) δ₄ определяют по формуле

,

(4)

где a_I - относительный коэффициент влияния тока в цепи проверяемого выхода на измеряемый параметр;

δ_I - относительная погрешность установления и поддержания тока в цепи проверяемого выхода;

K_I - коэффициент, зависящий от закона распределения δ_I, δ_PV и доверительной вероятности;

δ_PV, K_PV - см. формулу (3);

остальные обозначения - см. формулу (1).

5.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

5.2. Подготовка к измерениям - по п. 1.2.

5.3. Проведение измерений

5.3.1. На микросхему подают напряжения питания от источника G2, входные напряжения от источника G1 и на проверяемый выход - напряжение от источника G3, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

5.3.2. Измеряют ток измерителем РА.

5.4. Показатели точности измерения

5.4.1. Погрешность измерения выходного тока высокого уровня и тока выключенного состояния должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

G1, G2, G3 - источники постоянного напряжения, D - микросхема; РА - измеритель постоянного тока

Черт. 5

5.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения - по п. 1.4.2.

5.4.3. Границы интервала погрешности измерения выходного тока высокого уровня (тока выключенного состояния) δ₃ определяют по формуле

,

(5)

где a_U - относительный коэффициент влияния напряжения на проверяемом выводе на измеряемый параметр;

δ_U - относительная погрешность установления и поддержания напряжения на проверяемом выходе;

K_U - коэффициент, зависящий от закона распределения погрешности δ_U и доверительной вероятности;

остальные обозначения - см. формулу (1).

6.1. Измерения следует проводить на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 5.

6.2. Подготовка к измерениям - по п. 1.2.

6.3. Проведение измерений

6.3.1. На микросхему подают напряжения питания от источника G2, входные напряжения от источника G1, значения которых установлены в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

6.3.2. На проверяемом выходе создают короткое замыкание на общий вывод микросхемы, устанавливая напряжение источника G3 равным нулю и измеряют ток, при этом продолжительность короткого замыкания не должна превышать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

6.4. Показатели точности измерения

6.4.1. Погрешность измерения тока короткого замыкания должна быть в пределах ± 5 % и соответствовать установленной в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.

6.4.2. Доверительная вероятность погрешности измерения - по п. 1.4.2.

6.4.3. Границы интервала погрешности измерения тока короткого замыкания δ₆ определяют по формуле

,

(6)

где a_U, δ_U, K_U - см. формулу (5);

остальные обозначения - см. формулу (1).

Приложение
справочное

Разд. 1 ГОСТ 18683.1-83 соответствует разд. 1 СТ СЭВ 3197-81

Разд. 2 ГОСТ 18683.1-83 " разд. 2 СТ СЭВ 3197-81

Разд. 3 ГОСТ 18683.1-83 " разд. 3 СТ СЭВ 3197-81

Разд. 4 ГОСТ 18683.1-83 " разд. 4 СТ СЭВ 3197-81

Разд. 5 ГОСТ 18683.1-83 " разд. 5 СТ СЭВ 3197-81

Разд. 6 ГОСТ 18683.1-83 " разд. 6 СТ СЭВ 3197-81